[发明专利]内存测试方法在审
申请号: | 201910683860.2 | 申请日: | 2019-07-26 |
公开(公告)号: | CN112309490A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 蔡振龙;基因·罗森塔尔 | 申请(专利权)人: | 第一检测有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 任芸芸;郑特强 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开一种内存测试方法,是在对内存进行预烧测试、高温测试、低温测试及常温测试的过程中,将相对应的测试结果数据及测试参数写入该内存中。本发明还公开一种内存测试方法,是在对内存进行预烧测试、高温测试、低温测试及常温测试后,将相对应的测试结果数据及测试参数写入该内存中。通过本发明的内存测试方法完成测试的内存,内存内部将储存有测试结果数据及测试参数,而相关人员将可通过读取多个数据轻易地追踪该内存的测试历程。 | ||
搜索关键词: | 内存 测试 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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