[发明专利]一种差分线的引脚走线检查方法及相关装置在审
申请号: | 201910684172.8 | 申请日: | 2019-07-26 |
公开(公告)号: | CN110378062A | 公开(公告)日: | 2019-10-25 |
发明(设计)人: | 李艳军 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 丁曼曼 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请公开了一种差分线的引脚走线检查方法,包括:获取待检查信号线;根据所述待检查信号线的叠层结构中的介质厚度计算出检查距离;根据所述检查距离以所述待检查信号线为中心线构建出检查区域;判断所述检查区域内是否存在差分信号线;若是,则将所述差分信号线作为串扰差分信号线。通过获取到的待检查信号线对应的叠层机构中的介质厚度计算出检查距离,然后以检查距离和信号线为中心线构建出检查区域,最后实现对检查区域中的差分线进行检查,实现了对差分线的自动化检查,提高了检查效率,保持了检查的精度和准确率。本申请还公开了一种差分线的引脚走线检查装置、计算机设备以及计算机可读存储介质,具有以上有益效果。 | ||
搜索关键词: | 检查 检查信号线 检查区域 差分信号线 分线 引脚 走线 厚度计算 差分线 构建 计算机可读存储介质 计算机设备 叠层结构 检查装置 相关装置 信号线 准确率 串扰 叠层 申请 自动化 | ||
【主权项】:
1.一种差分线的引脚走线检查方法,其特征在于,包括:获取待检查信号线;根据所述待检查信号线的叠层结构中的介质厚度计算出检查距离;根据所述检查距离以所述待检查信号线为中心线构建出检查区域;判断所述检查区域内是否存在差分信号线;若是,则将所述差分信号线作为串扰差分信号线。
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