[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201910687997.5 申请日: 2019-07-26
公开(公告)号: CN111668227B 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 沓掛静香;松本浩史;斋藤广翔 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H10B41/50 分类号: H10B41/50;H10B41/30;H01L23/538;H01L21/768
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 实施方式提供一种能够实现高集成化及高速化的半导体装置。实施方式的半导体装置具备:衬底;第1绝缘层及第2绝缘层,在与衬底的表面交叉的第1方向上与衬底并排;空隙层,设置在第1绝缘层及第2绝缘层之间;以及第1接点电极及第2接点电极,在第1方向上延伸并在与第1方向交叉的第2方向上排列。第1接点电极及第2接点电极分别具备:第1方向的一端部;第1方向的另一端部;以及第1部分,设置在一端部与另一端部之间且第2方向上的宽度大于一端部的第2方向上的宽度及另一端部的第2方向上的宽度。第1接点电极的第1部分及第2接点电极的第1部分设置在空隙层。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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