[发明专利]一种多台阶透镜产品矢高测量方法在审
| 申请号： | 201910688459.8 | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN110319749A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 周金谷 | 申请（专利权）人： | 丹阳丹耀光学有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 西安研创天下知识产权代理事务所(普通合伙) 61239 | 代理人： | 郭璐 |
| 地址： | 212325 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种多台阶透镜产品矢高测量方法，包括以下步骤：（1）在千分表台架上从下到上依次放置测量环和平片，利用数显千分表进行检测测量环加上平片的高度的总和，检测完成后，将数显千分表显示的高度数据归零；（2）将上述测量环取出；在千分表台架上依次从下到上放置平片和多台阶透镜；利用数显千分表进行测量多台阶透镜的中心厚度；（3）将显千分表显示的步骤2中测得的数据归零；（4）然后在千分表台架上先放置平片，然后将测量环放置在平片上，将多台阶的透镜放置在测量环内，然后利用数显千分表进行检测出所需要的矢高。本发明的有益效果是：操作方便且测量精准，能够便于多台阶的透镜的矢高测量。 | ||
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【主权项】：
1.一种多台阶透镜产品矢高测量方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)在千分表台架上从下到上依次放置测量环和平片，利用数显千分表进行检测测量环加上平片的高度的总和，检测完成后，将数显千分表显示的高度数据归零；(2)将上述测量环取出；在千分表台架上依次从下到上放置平片和多台阶透镜；利用数显千分表进行测量多台阶透镜的中心厚度；(3)将显千分表显示的步骤2中测得的数据归零；(4)然后在千分表台架上先放置平片，然后将测量环放置在平片上，将多台阶的透镜放置在测量环内，然后利用数显千分表进行检测出所需要的台阶的矢高。
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