[发明专利]一种基于KSOI设备管理的测试方法在审
| 申请号： | 201910688934.1 | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN110379095A | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 马广暹 | 申请（专利权）人： | 东莞市广基达电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G07G1/00 | 分类号： | G07G1/00 |
| 代理公司： | 广州市深研专利事务所 44229 | 代理人： | 王彦昌 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及设备管理的测试技术领域，且公开了一种基于KSOI设备管理的测试方法，包括密码键盘测试、屏幕测试、磁条读测试、接触读卡器测试及非接读卡器测试共五大类型；密码键盘测试包括以下步骤：a1、按KSOI设备管理上的菜单键，进入测试界面，然后在按“1”键，进入设备管理界面，之后再按对应的“1”键进入键盘测试界面；a2、根据键盘测试界面提示按一下相对应的按键；a3、连续按了13个按键。该基于KSOI设备管理的测试方法，通过密码键盘测试、屏幕测试、磁条读测试、接触读卡器测试及非接读卡器测试一系列的测试，便于对KSOI设备管理进行及时检测维护，有效降低了该设备在使用过程中出现故障的几率，提高了该设备对不同标准硬件的适配程度。 | ||
| 搜索关键词： | 设备管理 测试 读卡器测试 密码键盘 键盘测试 屏幕测试 读测试 按键 磁条 测试技术领域 标准硬件 测试界面 界面提示 涉及设备 菜单键 适配 检测 维护 管理 | ||
【主权项】：
1.一种基于KSOI设备管理的测试方法，其特征在于：包括密码键盘测试、屏幕测试、磁条读测试、接触读卡器测试及非接读卡器测试共五大类型；密码键盘测试包括以下步骤：a1、按KSOI设备管理上的菜单键，进入测试界面，然后在按“1”键，进入设备管理界面，之后再按对应的“1”键进入键盘测试界面；a2、根据键盘测试界面提示按一下相对应的按键；a3、连续按了13 个按键，软件判断正确后该项测试通过；屏幕测试包括以下步骤：b1、根据a1中进入设备管理界面的步骤后，按“2”键，进入屏幕测试界面；b2、屏幕测试如出现花屏、闪烁屏、显示不全/有白点，都作为不良处理，需要返工；磁条读测试包括以下步骤：c1、根据a1中进入设备管理界面的步骤后，按“3”键再按“1”键，进入磁卡测试界面进行测试；c2、刷磁条卡，卡片磁条应贴着磁头从右向左刷；c3、刷卡成功后显示两行数据，最后一排出现成功的字样，如果磁头存在问题无法退出时请关机重启；接触读卡器测试包括以下步骤：d1、根据a1中进入设备管理界面的步骤后，按“3”键再按“2”键，进入芯片卡测试界面进行测试；d2、插入对应待读卡片；d3、刷卡成功后显示两行数据，最后一排出现成功的字样；非接读卡器测试包括以下步骤：e1、根据a1中进入设备管理界面的步骤后，按“3”键再按“3”键，进入非接卡测试进行测试；e2、将卡片放置在终端背面，感应成功后显示两行数据，最后一排出现成功的字样。
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