[发明专利]一种基于统计特征空间的暗弱小天体关联检测方法及系统有效
申请号: | 201910689169.5 | 申请日: | 2019-07-29 |
公开(公告)号: | CN110443176B | 公开(公告)日: | 2022-03-04 |
发明(设计)人: | 郑伟;杨震;牛文龙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家空间科学中心 |
主分类号: | G06V20/13 | 分类号: | G06V20/13;G06V10/764;G06V10/44;G06K9/62 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;王宇杨 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种基于统计特征空间的暗弱小天体关联检测方法及系统,所述方法包括:基于采集的图像样本数据,通过调整积分时间在某个时间段内获得连续若干帧图像;将图像中每一个像元的强度值在时序上形成一个时间序列;提取所述时间序列的关联特征和局部特征,构造特征空间矩阵;将特征空间矩阵输入训练好的分类器,通过检测时间序列中的瞬态扰动,确定该像元是否有暗弱小天体目标经过,实现暗弱小天体检测。本发明所涉及的方法利用时间序列分析和统计学的方法,能够在不改变现有观测硬件设备的条件下,极大提升对暗弱小天体的检测能力,降低小行星观测成本并提升空间探测效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 统计 特征 空间 暗弱 天体 关联 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于统计特征空间的暗弱小天体关联检测方法,所述方法包括:基于采集的图像样本数据,通过调整积分时间在某个时间段内获得连续若干帧图像;将所述图像的每一个像元的强度值在时序上形成一个时间序列;提取所述时间序列的关联特征和局部特征,构造特征空间矩阵;将特征空间矩阵输入预先训练好的分类器,通过检测时间序列中的瞬态扰动,确定该像元是否有暗弱小天体目标经过,实现暗弱小天体检测。
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