[发明专利]一种用于单光子干涉可见度的测量装置及方法有效
| 申请号： | 201910692918.X | 申请日： | 2019-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN112304444B | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 李骁;安俊明;王玥;任梅珍;王亮亮;张家顺;尹小杰;吴远大 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02;G01B9/02015 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周天宇 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于单光子干涉可见度的测量装置及方法，装置包括：激光器(1)、光斩波器(2)、可调光衰减器(3)、待测AMZI(4)、门控式单光子探测器(5)、计算机(9)、信号发生器(6)、光功率计(8)，以及相位调节系统(7)。利用该方法可以确定单光子探测计数随待测AMZI(4)相位变化的曲线，根据曲线中单光子探测计数的最大值和最小值计算单光子干涉可见度。可以直接对任意延时AMZI干涉仪单光子干涉可见度进行测量，并且可测量单个AMZI干涉仪单光子干涉的可见度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光子 干涉 可见度 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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