[发明专利]一种用于确定AMZI偏振无关温控条件的装置及方法

摘要

一种用于确定AMZI偏振无关温控条件的装置及方法，包括激光器(1)、光斩波器(2)、扰偏器(3)、可调光衰减器(4)、待测AMZI(5)、偏振分束器(6)、门控式单光子探测器(7)、信号发生器(8)、温度控制器(9)、计算机(10)以及光功率计(11)。利用该方法可以分别确定在偏振分束器(6)的TE模分量和TM模分量下温度与单光子探测计数的关系曲线，比较两个关系曲线相位相同点对应的温度区域即得AMZI单光子干涉偏振无关的温控条件。

主权项

1.一种用于确定AMZI偏振无关温控条件的装置，具体用于确定波导型AMZI单光子干涉偏振无关的温控条件，所述装置包括：第一装置，用于获取光波的平均光子数为0.1/脉冲时的目标衰减值，包括依次连接的激光器(1)、光斩波器(2)、光功率计(11)，以及与所述光斩波器(2)连接的信号发生器(8)，其中，激光器(1)用于产生连续光波，信号发生器(8)用于产生调制方波信号，光斩波器(2)根据所述调制方波将所述连续光波调制成光脉冲序列，光功率计(11)用于测量所述光脉冲序列的平均功率；第二装置，用于基于所述目标衰减值获得AMZI偏振无关的温控条件，包括依次连接的激光器(1)、光斩波器(2)、扰偏器(3)、可调光衰减器(4)、待测AMZI(5)、偏振分束器(6)、门控式单光子探测器(7)，以及计算机(10)、温度控制器(9)与信号发生器(8)，其中，信号发生器(8)产生同步信号与调制方波信号，所述信号发生器(8)与所述光斩波器(2)以及门控式单光子探测器(7)连接，以将所述调制方波信号发送至所述光斩波器(2)，并将所述同步信号发送至所述门控式单光子探测器(7)，所述计算机(10)与温度控制器(9)通信连接，通过其控制所述待测AMZI(5)的温度，此外，所述计算机(10)与门控式单光子探测器(7)通信连接。