[发明专利]一种H10×6×5磁环的分选测试方法在审
| 申请号： | 201910693743.4 | 申请日： | 2019-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN110501602A | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 刘洪建 | 申请（专利权）人： | 无锡斯贝尔磁性材料有限公司;江苏省晶石磁性材料与器件工程技术研究有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 11249 北京中恒高博知识产权代理有限公司 | 代理人： | 高玉滨<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 214400 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种H10×6×5磁环的分选测试方法，通过测试综合因子，来使H10×6×5磁环的峰峰值、均方根值满足标准；在高导H10×6×5磁环的电性能分选测试工序上，使用综合因子测试仪进行测试；开机综合因子测试仪器，调节仪器的测试频率为40KHz，测试电流0.25A，单圈每只测试H10×6×5磁环产品的综合因子，按照要求进行分选。本发明保护一种测试的方法，即H10×6×5磁环产品标准中要求检测峰峰值、均方根值等参数。而实际生产中测试这些参数效率非常低，于是就通过测试磁环的综合因子，来保证产品的峰峰值和均方根值都满足产品标准要求。 | ||
| 搜索关键词： | 磁环 综合因子 测试 均方根 分选 产品标准要求 测试电流 测试工序 测试频率 测试仪器 产品标准 测试仪 电性能 单圈 高导 开机 检测 保证 生产 | ||
【主权项】：
1.一种H10×6×5磁环的分选测试方法，其特征在于：通过测试综合因子，来使H10×6×5磁环的峰峰值、均方根值满足标准；在高导H10×6×5磁环的电性能分选测试工序上，使用综合因子测试仪进行测试。/n
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