[发明专利]一种碳化硅复合材料圆管漏率性能检测方法有效
| 申请号： | 201910694735.1 | 申请日： | 2019-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN110440998B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 程涵;谢宇辉;滕章弟 | 申请（专利权）人： | 核工业第八研究所 |
| 主分类号： | G01M3/22 | 分类号： | G01M3/22;G01M3/20 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种碳化硅复合材料圆管漏率性能检测方法，将密封座与第一定位杆连接，密封座与第一定位杆之间设有第一密封垫，形成第一模具组件，将过渡块与第二定位杆连接，过渡块与第二定位杆之间设有第二密封垫，将过渡块与真空检漏接口连接，形成第二模具组件，将待检测的碳化硅复合材料圆管的两端分别与第一模具组件及第二模具组件连接，将真空检漏接口与检漏仪上的阀门连接，开启抽真空处理，在碳化硅复合材料圆管的表面喷入惰性气体，利用检漏仪检测数据的变化，完成碳化硅圆管的漏率检测。与现有技术相比，本发明解决了碳化硅圆管的气密性检测问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 碳化硅 复合材料 圆管 率性 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种碳化硅复合材料圆管漏率性能检测方法，其特征在于，该方法包括：将密封座与第一定位杆连接，密封座与第一定位杆之间设有第一密封垫，形成第一模具组件，将过渡块与第二定位杆连接，过渡块与第二定位杆之间设有第二密封垫，将过渡块与真空检漏接口连接，形成第二模具组件，将待检测的碳化硅复合材料圆管的两端分别与第一模具组件及第二模具组件连接，碳化硅复合材料圆管的两个端面分别与第一密封垫及第二密封垫接触连接，将真空检漏接口与检漏仪上的阀门连接，开启抽真空处理，在碳化硅复合材料圆管的表面喷入惰性气体，利用检漏仪检测数据的变化，完成碳化硅圆管的漏率检测。
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