[发明专利]射频测试拓扑结构、测试方法、计算机及存储介质在审
| 申请号： | 201910698803.1 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN111030881A | 公开（公告）日： | 2020-04-17 |
| 发明（设计）人： | 石宝辉 | 申请（专利权）人： | 星络智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种射频测试拓扑结构，其包括多台待测设备、多台功分器、一台综测仪、一台计算机，每台待测设备的射频端口与一台功分器对应物理连接，每台待测设备与所述计算机的通讯连接，每台功分器的单端口均与所述综测仪的物理连接，所述综测仪与所述计算机通讯连接，所述综测仪与每台待测设备、每台功分器及计算机均构成一条测试通路。提高一台所述综测仪的使用效率，无需增加综测仪的数量，控制了生产成本，也提高了整个生产效率。另，本发明还公开了射频测试方法、计算机及存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 测试 拓扑 结构 方法 计算机 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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