[发明专利]微电阻点焊质量检测系统与检测方法在审

专利信息
申请号: 201910698894.9 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110243866A 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 范秋月 申请(专利权)人: 龙岩学院
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72
代理公司: 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人: 王怡敏
地址: 364012 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种微电阻点焊质量检测系统与检测方法,属于微型电阻点焊领域。采用非接触式加热模块与红外探测仪相配合的主动红外检测方式对微电阻点焊质量进行无损检测。非接触式加热模块在设定时间内对准微电阻点焊接头在进行均匀加热,红外探测仪接收到微电阻点焊接头温度信号,输入到工业计算机的数据采集处理系统。检测方法包括非接触式加热模块功率密度调整、检测角度调整等步骤,采集反应熔核内部结构的温度随时间变化图像,提取熔核区间温度总和,建立点焊接头质量等级评估模型。本发明首次实现了微电阻点焊质量的无损检测,检测效率高,使用方便,实用性强。
搜索关键词: 点焊 微电阻 非接触式加热 检测 质量检测系统 红外探测仪 无损检测 熔核 数据采集处理系统 工业计算机 随时间变化 等级评估 红外检测 角度调整 均匀加热 密度调整 模块功率 微型电阻 温度信号 对准 采集 图像 配合
【主权项】:
1.一种微电阻点焊质量检测系统,其特征在于:闪光灯电子件(2)、灯丝(3)、凸透镜Ⅰ(4)、光学积分球(5)共同组成非接触式加热模块,并置于非接触式加热模块壳体(1)内,所述灯丝(3)安装在闪光灯电子件(2)上,凸透镜Ⅰ(4)置于灯丝(3)和光学积分球(5)之间,光学积分球(5)通过支架固定在非接触式加热模块壳体(1)内;光源性能调理模块壳体(8)与非接触式加热模块壳体(1)固定连接,凸透镜Ⅱ(6)、凹透镜(7)共同组成光源性能调理模块,并分别固定在光源性能调理模块壳体(8)内;微型激光瞄准器Ⅰ(9.1)与微型激光瞄准器Ⅱ(9.2)固定在光源性能调理模块壳体(8)的前面,与PCI系统控制模块(12)连接;在电池(10)上的微电阻点焊接头处于红外探测模块(11)的视野范围内,红外探测模块(11)、非接触式加热模块壳体(1)通过PCI系统控制模块(12)与数据分析模块(13)相连,数据分析模块(13)与显示模块(14)相连。
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