[发明专利]金相显微镜矩阵归一化校正方法

摘要

本发明属于金相分析技术领域，特别涉及一种金相显微镜矩阵归一化校正方法，适用于多个金相显微镜同时工作的大面积样品快速金相分析。该金相显微镜矩阵由i×j个金相显微镜组成，将待分析样品表面分割成多个区域，i×j个金相显微镜同时对样品表面进行显微放大、聚焦拍照；通过对标准化样品进行九点采集、十字运行轨迹计算每个金相显微镜的C’ij的安装位置与运动方向的角度偏差αij、坐标偏差(Δxij，Δyij)以及表观长度偏差Δli，实现金相显微镜矩阵的校正。采用本发明能很好的快速解决多金相显微镜之间的位置、角度、放大倍率差异性问题。

主权项

1.一种金相显微镜矩阵归一化校正方法，该金相显微镜矩阵由i×j个金相显微镜组成，其特征在于：所述校正方法包括如下步骤：/n(1)用激光器在经抛光制样后的样品上激发一次，形成斑点；将样品放置在金相显微镜矩阵下方，并调整焦距使金相显微镜矩阵聚焦在样品表面；/n(2)将斑点中心移动至金相显微镜矩阵的任意一个金相显微镜C’_ij(i＝0,1,2,…m；j＝0,1,2,…n)所对应的显微相机的中心处，采集图像，并通过最小外接矩形法求取并记录斑点中心坐标；在样品表面，以该坐标点为原点，在所选定的金相显微镜C’_ij的平面直角坐标系的X正轴和负轴上分别间隔一定距离选定多对相互对称的坐标点，在Y正轴和负轴上分别间隔一定距离选定多对相互对称的坐标点；/n将所有坐标点按一定顺序依次移动到所选定的金相显微镜C’_ij所对应的显微相机的中心处，采集图像，并通过最小外接矩形法求取各坐标点的斑点中心坐标；/n根据所得各坐标点的斑点中心坐标值，计算所选的金相显微镜C’_ij的安装位置与运动方向的角度偏差α’_ij、表观长度l’_i和坐标值(x’_ij，y’_ij)；/n(3)采用与步骤(2)相同的方式遍历金相显微镜矩阵的所有金相显微镜，获得所有金相显微镜的安装位置与运动方向的角度偏差α_ij、表观长度l_i和坐标值(x_ij，y_ij)；/n(4)将步骤(2)所选定的金相显微镜C’_ij的表观长度l’_i归一为1微米/像素；L’_i＝k×l’_i；/n式中，L’_i为归一后的表观长度，k为归一系数，l’_i为所选定的金相显微镜C’_ij的表观长度；/n(5)以所选定的金相显微镜C’_ij为标准，通过如下公式计算金相显微镜矩阵中每个金相显微镜的坐标偏差(Δx_ij，Δy_ij)以及表观长度偏差Δl_i；/nΔx_ij＝x_ij-x’_ij；/nΔy_ij＝y_ij-y’_ij；/nΔl_i＝l_i/L’_i＝l_i/(k×l’_i)；/n(6)保存各金相显微镜的安装位置与运动方向的角度偏差α_ij、坐标偏差(Δx_ij，Δy_ij)以及表观长度偏差Δl_i，实现金相显微镜矩阵的校正。/n