[发明专利]一种利用金属内耗的无损检测方法在审

专利信息
申请号: 201910700140.2 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110470733A 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 张涛 申请(专利权)人: 广州大学
主分类号: G01N29/04 分类号: G01N29/04
代理公司: 44205 广州嘉权专利商标事务所有限公司 代理人: 任毅<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 510006 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种利用金属内耗的无损检测方法,包括以下步骤,取得金属试样并将其安装到振幅内耗仪上;振幅内耗仪进行大应变内耗测试,调节振幅得到对应的振幅‑内耗曲线,该振幅‑内耗曲线具有一个拐点;改变金属试样的温度,重复上述步骤,得到每个温度下的振幅‑内耗曲线;结合不同的振幅‑内耗曲线对比分析确定金属试样的DBTT。经过与拉伸试验的对比,证明了本申请方案在测试金属试样是的有效性。采用本检测方法通过振幅‑内耗方式试验,可以不破坏金属试样,从而延长金属试样的使用寿命,甚至达到重复使用金属试样的目的。此发明用于金属检测领域。
搜索关键词: 金属试样 测试金属 金属检测 拉伸试验 内耗测试 曲线对比 使用寿命 无损检测 大应变 拐点 金属 检测 重复 试验 申请 分析
【主权项】:
1.一种利用金属内耗的无损检测方法,其特征在于包括以下步骤:/nS1.取得金属试样,然后将金属试样安装到振幅内耗仪上;/nS2.振幅内耗仪运行,进行大应变内耗测试,以振幅为X轴,以内耗为Y轴,调节振幅得到对应的振幅-内耗曲线,该振幅-内耗曲线具有一个断裂点或拐点;/nS3.改变金属试样的温度,重复步骤S3,得到其他温度下的振幅-内耗曲线;/nS4.结合不同的振幅-内耗曲线对比分析确定金属试样的DBTT,随着温度的逐渐上升,部分的振幅-内耗曲线会断裂,而后续部分的振幅-内耗曲线会出现拐点,振幅-内耗曲线从断裂到出现拐点所对应的这个温度便是金属试样的DBTT。/n
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