[发明专利]一种低温环境下电子器件工作温度控制方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910702253.6 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN110377078B 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 胡义;胡柯良;商朝晖;马斌;刘强;王威 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台
主分类号: G05D23/20 分类号: G05D23/20
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 苗晓静
地址: 100012 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种低温环境下电子器件工作温度控制方法及装置,方法包括:获取密闭的保温容器内的温度值和所述保温容器外的环境温度;根据所述保温容器内的温度值、所述保温容器外的环境温度、所述保温容器内保温材料的特性、所述保温容器的尺寸参数、所述加热装置的加热参数、所述电子器件的发热参数以及所述保温容器内的预设温度要求范围,控制所述加热装置的开闭状态,使得所述保温容器内的电子器件能够正常工作且使得所述加热装置的功耗较小。本发明实施例实现了低温环境下电子器件工作温度的控制,在保证电子器件能够正常工作的同时使得所述加热装置的功耗较小。
搜索关键词: 一种 低温 环境 电子器件 工作温度 控制 方法 装置
【主权项】:
1.一种低温环境下电子器件工作温度控制方法,其特征在于,包括:获取密闭的保温容器内的温度值和所述保温容器外的环境温度;其中,所述保温容器内设置有用于完成预设工作的电子器件、用于监测保温容器内温度的温度传感器以及用于对所述保温容器内部进行加热的加热装置;根据所述保温容器内的温度值、所述保温容器外的环境温度、所述保温容器内保温材料的特性、所述保温容器的尺寸参数、所述加热装置的加热参数、所述电子器件的发热参数以及所述保温容器内的预设温度要求范围,控制所述加热装置的开闭状态,使得所述保温容器内的电子器件能够正常工作且使得所述加热装置的功耗较小;其中,所述预设温度要求范围由所述电子器件正常工作需要的温度条件确定。
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