[发明专利]一种电子元器件噪声测试及寿命评估的系统及方法和装置

摘要

本发明属于电子元器件测试技术领域，公开了一种电子元器件噪声测试及寿命评估的系统及方法和装置，包括：主控模块、输出模块、信号采集模块、噪声信号分析模块、电路或单元噪声分析模块。本发明提出了一套电子元件噪声测试系统的装置，并在电子元器件噪声测试的基础上，基于噪声综合参数提取和寿命评估分析研究，创新性提出了基于噪声的综合参数测试提取及对器件寿命进行表征评估的分析方法流程，提出了寿命和可靠性评估模型的建立方法，并设计开发了一套可以对电子元件以及集成电路模块进行噪声测试分析、噪声参数提取及电子元件寿命分析评估的系统，该系统可广泛应用于电子元器件的噪声测试和寿命及可靠性评估分析相关领域。

主权项

1.一种电子元器件噪声测试及寿命评估的系统，其特征在于，所述电子元器件噪声测试及寿命评估的系统包括：主控模块，用于完成对系统的配置管理和人机界面控制；输出模块，用于完成对所有测试数据的综合报告，自动生成报告文档或图片文档，输出模块打印相关报告和图片；信号采集模块，用于完成对采样的频率控制、采样的点数控制和内置增益控制，并在控制参数下完成对噪声信号的模拟到数字信号的转换和数据获取；噪声信号分析模块，用于进行时域、频谱和时频子波域进行分析；时域能完成噪声时间序列信号的有效值、峰峰值、平均值、最大值、最小值及噪声幅值分布密度，频域信号能完成频谱变换、点频值、宽带值的提取分析，子波分析完成时‑频联合参数的分析；电路或单元噪声分析模块，用于实现数据拟合和数据筛选；还包括参数的分析报告，噪声参数的分析和数据批量处理；多参量分析包括时域和频域参数的提取和综合分析，同时利用数据拟合算法完成对频谱数据的拟合，实测噪声频谱中分离出各种噪声分量，进行线性非线性拟合优化出噪声表征参数值。