[发明专利]用于测量电子装置的工作参数的设备及其测量方法在审
申请号: | 201910710639.1 | 申请日: | 2019-08-02 |
公开(公告)号: | CN112304360A | 公开(公告)日: | 2021-02-02 |
发明(设计)人: | 王舜尧;李华英;M.阿巴迪 | 申请(专利权)人: | 施耐德电器工业公司 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02;G08C17/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 葛飞 |
地址: | 法国吕埃*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于测量电子装置的工作参数的设备,所述设备包括:壳体;容纳在壳体中的电流测量模块、温度测量模块和计算控制模块;温度测量模块用于测量电子装置的绝对温度和环境温度并且将测量到的绝对温度和环境温度的数值发送给计算控制模块;电流测量模块用于测量电子装置的电流并且将测量到的电流的数值发送给计算控制模块;电子装置具有绝对温度阈值;所述电子装置具有与测量到的电流相对应的温升阈值;计算控制模块判断绝对温度的数值是否超出绝对温度阈值;计算控制模块基于绝对温度与环境温度计算电子装置的实际温升;计算控制模块判断实际温升是否超出温升阈值。一种用于测量电子装置的工作参数的测量方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 电子 装置 工作 参数 设备 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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