[发明专利]一种随钻可控源中子孔隙度测井仪环境校正方法有效
| 申请号： | 201910711947.6 | 申请日： | 2019-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN110439545B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 朱军;安旅行;骆庆锋;陈绪涛;王飞;王珺;陈辉;郭广鎏;宋森;李留;范宇翔;邹骁;胡凯利;刘容华;袁晓波 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司 |
| 主分类号： | E21B49/00 | 分类号： | E21B49/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 高博 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种随钻可控源中子孔隙度测井仪环境校正方法，进行分间隙区域刻度，每个间隙区域有独立的刻度曲线，判断该井眼间隙所属的bin区；随钻可控源中子孔隙度测井仪在一个周期T内，处于某一间隙区域的时间越长，则随钻可控源中子孔隙度测井仪在该间隙区域内的视孔隙度的时间权重越大，可信度越高；在一个周期T内，通过井眼加权和时间加权得到随钻可控源中子孔隙度测井仪轴线一侧的视孔隙度值，随钻可控源中子孔隙度测井仪轴线两侧的视孔隙度在经过时间权重处理得到随钻可控源中子孔隙度测井仪的测量值，最后完成随钻可控源中子孔隙度测井仪环境校正。本发明能够消除间隙无序变化和井眼尺寸对孔隙度测井曲线的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可控 中子 孔隙 测井 环境 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种随钻可控源中子孔隙度测井仪环境校正方法，其特征在于，随钻可控源中子孔隙度测井仪的刻度根据补偿中子的刻度方法进行分间隙区域刻度，每个间隙区域有独立的刻度曲线，随钻可控源中子孔隙度测井仪的中子探测器一侧的井眼间隙通过与其同侧的超声井径探头提供，然后判断该井眼间隙所属的bin区；随钻可控源中子孔隙度测井仪在一个周期T内，处于某一间隙区域的时间越长，则随钻可控源中子孔隙度测井仪在该间隙区域内的视孔隙度的时间权重越大，可信度越高；在一个周期T内，通过井眼加权和时间加权得到随钻可控源中子孔隙度测井仪轴线一侧的视孔隙度值，随钻可控源中子孔隙度测井仪轴线两侧的视孔隙度在经过时间权重处理得到随钻可控源中子孔隙度测井仪的测量值，最后完成随钻可控源中子孔隙度测井仪环境校正。
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