[发明专利]一种基于图形化MOSFET驱动器的测试方法有效
申请号: | 201910711956.5 | 申请日: | 2019-08-02 |
公开(公告)号: | CN110412380B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 陈志培 | 申请(专利权)人: | 西安太乙电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 高博 |
地址: | 710075*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于图形化MOSFET驱动器的测试方法,采用多通道任意波形发生器AWG与多通道数字化仪AFD分别与MOSFET驱动器的电源、输入与输出端连接;在MOSFET驱动器的输入端施加高速触发波形;在MOSFET驱动器的电源端与输入端施加同步波形;在MOSFET驱动器的输出端施加电压或电流波形;利用测试设备的时钟同步测试波形;进行波形测试,在测试器件不同状态下使用多通道数字化仪AFD采集测试MOSFET驱动器的不同参数。本发明开发周期短,通用性强,能够满足MOSFET驱动器测试需求,还可以用于其它大功率器件的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 图形 mosfet 驱动器 测试 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于图形化MOSFET驱动器的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、采用多通道任意波形发生器AWG与多通道数字化仪AFD分别与MOSFET驱动器的电源、输入与输出端连接;S2、在MOSFET驱动器的输入端施加高速触发波形;在MOSFET驱动器的电源端与输入端施加同步波形;在MOSFET驱动器的输出端施加电压或电流波形;利用测试设备的时钟同步测试波形;S3、进行波形测试,在测试器件不同状态下使用多通道数字化仪AFD采集测试MOSFET驱动器的不同参数。
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