[发明专利]微波多普勒频移的测量系统及其应用有效
| 申请号： | 201910719229.3 | 申请日： | 2019-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN110412560B | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 李金野;刘建国;于文琦 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01S13/58 | 分类号： | G01S13/58;G01S13/524;G01R29/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴梦圆 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种微波多普勒频移的测量系统及其应用，该测量系统包括光源，用于为所述微波多普勒频移测量系统提供光载波；第一调制器，用于将发射微波信号调制到光源上得到第一光波信号；第二调制器，用于将带有多普勒频移的接收微波信号调制到光源上得到第二光波信号；相位调制器，用于将第二光波信号进行移相后得到第三光波信号；第一探测器，用于探测第一光波信号和第三光波信号；第二探测器，用于探测第一光波信号和第二光波信号；频谱仪以及示波器。本公开结构简单，不用复杂的滤波等方式，实施容易，可以实现宽带、高质量精确的微波多普勒频移数值和方向的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 多普勒频移 测量 系统 及其 应用 | ||
【主权项】：
1.一种微波多普勒频移的测量系统，其特征在于，包括：光源，用于为所述微波多普勒频移测量系统提供光载波；第一调制器，用于将发射微波信号调制到光源上得到第一光波信号；第二调制器，用于将带有多普勒频移的接收微波信号调制到光源上得到第二光波信号；相位调制器，用于将第二光波信号进行移相后得到第三光波信号；第一探测器，用于探测第一光波信号和第三光波信号；第二探测器，用于探测第一光波信号和第二光波信号；频谱仪，其通过观测第一探测器或第二探测器的探测结果得到微波多普勒频移的数值；以及示波器，其通过对比第一探测器和第二探测器的探测结果之间的相位差确定微波多普勒频移的方向。
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