[发明专利]一种低功耗高摆率的比较器有效
申请号: | 201910720839.5 | 申请日: | 2019-08-06 |
公开(公告)号: | CN110445482B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 周泽坤;金正扬;王佳文;王韵坤;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H03K5/24 | 分类号: | H03K5/24 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种低功耗高摆率的比较器,比较器第一级中第一PMOS管的栅极连接偏置电压,源极连接电源电压,漏极连接第二PMOS管和第三PMOS管的源极;第二PMOS管和第三PMOS管的栅极分别作为比较器的负向输入端和正向输入端,漏极分别连接第一NMOS管和第二NMOS管的漏极;第一电阻和第二电阻串联并接在第二PMOS管和第三PMOS管的漏极之间,串联点连接第一NMOS管和第二NMOS管的栅极;第一NMOS管和第二NMOS管的源极接地;比较器第二级中第三NMOS管和第四NMOS管的栅极分别连接第二PMOS管和第三PMOS管的漏极,源极均接地;第四PMOS管栅漏短接并连接第五PMOS管的栅极和第三NMOS管的漏极,源极连接第五PMOS管的源极连接电源电压;第四NMOS管的漏极连接第五PMOS管的漏极并输出比较信号。本发明具有低功耗和高摆率的特点。 | ||
搜索关键词: | 一种 功耗 高摆率 比较 | ||
【主权项】:
1.一种低功耗高摆率的比较器,其特征在于,所述比较器为两级比较器,所述比较器的第一级包括第一PMOS管、第二PMOS管、第三PMOS管、第一NMOS管、第二NMOS管、第一电阻和第二电阻,第一PMOS管的栅极连接偏置电压,其源极连接电源电压,其漏极连接第二PMOS管和第三PMOS管的源极;第二PMOS管的栅极作为所述比较器的负向输入端,其漏极连接第一NMOS管的漏极;第三PMOS管的栅极作为所述比较器的正向输入端,其漏极连接第二NMOS管的漏极;第一电阻和第二电阻串联并接在第二PMOS管的漏极和第三PMOS管的漏极之间,其串联点连接第一NMOS管和第二NMOS管的栅极;第一NMOS管和第二NMOS管的源极接地;所述比较器的第二级包括第四PMOS管、第五PMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管,第三NMOS管的栅极连接第二PMOS管的漏极,其漏极连接第四PMOS管的栅极和漏极以及第五PMOS管的栅极,其源极连接第四NMOS管的源极并接地;第四NMOS管的栅极连接第三PMOS管的漏极,其漏极连接第五PMOS管的漏极并输出比较信号;第四PMOS管和第五PMOS管的源极连接电源电压;第二PMOS管和第三PMOS管的尺寸相等,第一NMOS管和第二NMOS管的尺寸相等,第四PMOS管和第五PMOS管的尺寸相等,第三NMOS管和第四NMOS管的尺寸相等,第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管均工作在亚阈值区且漏源电压均大于4VT,VT为热电压;第一电阻和第二电阻的阻值相等且都为R,R满足:
其中m是亚阈值斜率因子,I为流过第一PMOS管的电流,VTH为第二NMOS管的阈值电压,
为第二NMOS管的宽长比,μn为电子迁移率,COX为氧化层单位面积电容。
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