[发明专利]缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质

摘要

本发明公开一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，缺陷检测装置包括采集单元，缺陷检测方法包括：控制投影装置投影第一投影图像中的第一投影区块于投影屏；移动采集单元，使采集单元的采集方向指向第一投影区块；控制采集单元采集第一检测图像，第一检测图像与第一投影区块相关联；确定第一投影区块的的第一缺陷信息。重复上述步骤，直至第一投影图像的全部第一投影区块完成缺陷检测。本发明提供一种缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中对投影系统的缺陷通过人工的方式进行检测，导致检测标准不统一，检测结果不准确的问题。

主权项

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述缺陷检测方法应用于投影系统的缺陷检测装置，所述投影系统包括投影装置与投影屏，所述缺陷检测装置包括采集单元，所述缺陷检测方法包括：步骤1，控制所述投影装置投影第一投影图像中的第一投影区块于所述投影屏，所述第一投影图像包括N个依次排列的所述第一投影区块；步骤2，移动所述采集单元，使所述采集单元的采集方向指向所述第一投影区块；步骤3，控制所述采集单元采集第一检测图像，所述第一检测图像与所述第一投影区块相关联；步骤4，根据所述第一投影区块以及所述第一检测图像，确定所述第一投影区块的的第一缺陷信息；步骤5，重复执行步骤1，直至所述第一投影图像的全部所述第一投影区块完成缺陷检测。