[发明专利]一种光学薄膜激光损伤阈值测试系统及其方法有效

专利信息
申请号: 201910722421.8 申请日: 2019-08-06
公开(公告)号: CN110542684B 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 赵元安;马浩;邵建达;李大伟;刘晓凤;邵宇宸;李成;李婷 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01M11/00
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种光学薄膜激光损伤阈值测试方法,包括如下步骤:S1、测试得到光学薄膜单脉冲激光损伤时的激光能量密度Fth;S2、使单脉冲激光对光学薄膜进行辐照,记录下光学薄膜表面激光损伤边界不再增大时的激光损伤区域边界坐标(xi,yi),同时记录下单脉冲激光辐照的次数n;S3、将激光能量密度的高斯分布与激光损伤区域分布对照,得到光学薄膜多脉冲激光辐照损伤时的激光损伤阈值FN;S4、不断改变入射的激光能量密度,重复执行步骤S2、S3,得到不同脉冲数目的飞秒激光辐照下光学薄膜的激光损伤阈值曲线。有益效果是不仅仅保证多脉冲激光辐照下光学薄膜激光损伤阈值测量准确性、同时大大提高多脉冲辐照下光学薄膜损伤阈值的测试效率。
搜索关键词: 一种 光学薄膜 激光 损伤 阈值 测试 系统 及其 方法
【主权项】:
1.一种光学薄膜激光损伤阈值测试系统,其特征在于:所述测试系统包括飞秒激光器(1)、两个反射镜(2)、能量衰减系统(3)、机械快门(4)、聚焦透镜(5)、楔形片(6)、光束质量分析仪(7)、能量计(8)、供光学薄膜(9)放置的二维移动平台(10)、CCD相机(11)和电脑(12),所述电脑(12)设有数据输出卡(13)和运动控制卡(14);所述飞秒激光器(1)连接至数据输出卡(13),所述二维移动平台(10)连接至运动控制卡(14),所述光束质量分析仪(7)、能量计(8)、CCD相机(11)连接至电脑(12),所述数据控制卡(13)用于控制飞秒激光器(1)输出飞秒激光,所述运动控制卡(14)用于控制二维移动平台(10)的水平和垂直移动,所述光学薄膜(9)安装在二维移动平台(10)上,所述CCD相机(11)摄像头对准光学薄膜(9);所述飞秒激光器(1)、两个反射镜(2)、能量衰减系统(3)、机械快门(4)、聚焦透镜(5)、楔形片(6)在一个激光光路上,所述光束质量分析仪(7)和能量计(8)用于分别收集楔形片(6)反射方向的激光光束,所述光束质量分析仪(7)用于激光质量分析,所述能量计(8)用于测量激光的能量;所述光学薄膜(9)表面接收楔形片(6)透射方向的激光光束,所述反射镜(2)、能量衰减系统(3)用于调整飞秒激光器(1)发出的激光能量密度,所述机械快门(4)用于调整到达光学薄膜(9)表面激光的脉冲数目,所述聚焦透镜(5)用于调节激光光束焦点到光学薄膜(9)表面,所述CCD相机(11)用于记录激光光斑在光学薄膜(9)表面的位置。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910722421.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top