[发明专利]光纤温度分布测试仪光纤长度自动校准及自动测试方法有效

专利信息
申请号: 201910723408.4 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN110455438B 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 袁明;张洋;闫继送;徐瑞;龚侃;郭洪龙;李鹏;徐玉华;张志辉;毕宗义 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 林琪超
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种光纤温度分布测试仪光纤长度自动校准及自动测试方法,现有的光纤温度分布测试仪光纤长度校准主要依赖于人工手动校准,由于人工分析中主观因素较多,会影响校准效果;而且人工手动校准效率很低,难以满足光纤温度分布测试仪生产、使用过程中的需求。本发明以提出的基于斯托克斯与反斯托克斯数据的多重降采样复合数据长度分析方法,通过对光纤温度分布测试仪系统中斯托克斯与反斯托克斯数据进行深入分析,实现对斯托克斯曲线与反斯托克斯曲线光纤末端的识别计算,并以此为基础实现对光纤温度分布测试仪接入光纤长度的分析,该自动测试方法节省人工成本、校准精度高、校准效率高、无需硬件改动、不增加硬件成本。
搜索关键词: 光纤 温度 分布 测试仪 长度 自动 校准 测试 方法
【主权项】:
1.一种光纤温度分布测试仪光纤长度自动校准及自动测试方法,其特征在于,包括以下步骤:/n步骤101:启动光纤温度分布测试仪,断开被测光纤;/n步骤102:启动光纤长度自动校准功能,输入光纤实际长度FL,光纤1550nm折射率IR_IN,1550nm折射率IR_IN可由光纤厂家给出,设置反斯托克斯光折射率IR_AS为IR_IN,设置斯托克斯光折射率IR_S为IR_IN,设置空间分辨率参数SFR为1m,采样分辨率SAMF为0.2m,设置测试量程FR=光纤长度FL+1km,设置内部光纤斯托克斯补偿数据长度DC_S为0,内部光纤反斯托克斯补偿数据长度DC_AS为0,计算测试数据数目N,N的典型值大于等于(光纤长度FL+1km)÷采样分辨率SAMF;/n步骤103:启动光纤末端长度计算功能,计算内部光纤斯托克斯曲线末端PFS_S为FS_S,内部光纤反斯托克斯曲线末端PFS_AS为FS_AS;/n步骤104:将被测光纤接入光纤温度分布测试仪;/n步骤105:再次启动光纤末端长度计算功能,计算被测光纤斯托克斯曲线末端PFE_S为FS_S,被测光纤反斯托克斯曲线末端PFE_AS为FS_AS;/n步骤106:读取斯托克斯距离数据DSX[0~N],该数据通过斯托克斯光折射率IR_S以及采样分辨率SAMF计算得到;,反斯托克斯距离数据DASX[0~N],该数据通过反斯托克斯光折射率IR_AS以及采样分辨率SAMF计算得到;计算斯托克斯数据光纤测试长度S_DL为DSX[PFE_S]和DSX[PFS_S]的差值,反斯托克斯数据光纤测试长度AS_DL为DASX[PFE_AS]和DASX[PFS_AS]的差值;/n步骤107:计算IR_S为(2*S_DL/FL-1)*IR_IN,IR_AS为(2*AS_DL/FL-1)*IR_IN;/n步骤108:根据IR_S与IR_AS重新计算DSX[0]到DSX[N]、DSAX[0]到DSAX[N];/n步骤109:设置DC_S为DSX[PFS_S],DC_AS为DSAX[PFS_AS];/n步骤110:启动光纤末端长度计算功能,计算被测光纤斯托克斯曲线末端PFE_S为FS_S,被测光纤反斯托克斯曲线末端PFE_AS为FS_AS;/n步骤111:判断DSX[PFE_S]与FL差值的绝对值是否小于SFR,如果是,转步骤112,否则转步骤115;/n步骤112:判断DSAX[PFE_AS]与FL差值的绝对值是否小于SFR,如果是,转步骤113,否则转步骤115;/n步骤113:判断DSX[PFE_S]与DSAX[PFE_AS]差值的绝对值是否小于SFR,如果是,转步骤114,否则转步骤115;/n步骤114:校准成功,结束;/n步骤115:校准失败,检查光路,结束。/n
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