[发明专利]一种高低温测试分选一体机

摘要

本发明公开了一种高低温测试分选一体机，涉及半导体自动工业化生产领域，投放装置；第一常温检测装置，接收来自投放装置的元器件，对元器件进行第一次常温电性参数测试；低温检测装置，对元器件进行低温电性参数测试；中转装置，接收来自低温检测装置的元器件，再将元器件转移至下道工序；高温检测装置，对元器件进行高温电性参数测试；第二常温检测装置，接收来自高温检测装置的元器件，对元器件进行第二次常温电性参数测试；位置纠正装置，对元器件的方向位置纠正处理，本发明通过合理布局，将多个温度区间的测试设备完整地集成在一台设备上，节省了场地空间，减少产品搬运时间，节约了成本，提高了工作效率。

主权项

1.一种高低温测试分选一体机，其特征在于：包括：投放装置(2)，进行元器件的输送，并对所述元器件进行分离排序；第一常温检测装置(3)，接收来自所述投放装置(2)分离排序后的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行低温测试前的第一次常温电性参数测试，并记录所述第一次常温电性参数测试的信息数据；低温检测装置(4)，接收来自所述第一常温监测装置(3)的元器件，提供低温检测的环境，对元器件进行低温电性参数测试，并记录所述低温电性参数测试的信息数据；中转装置(5)，接收来自所述低温检测装置(4)的元器件，低温状态下的元器件与室温空气进行温度传导，元器件吸热逐渐恢复到室温，再将元器件转移至下道工序；高温检测装置(6)，接收来自所述中转装置(5)的元器件，提供高温检测的环境，对元器件进行高温电性参数测试，并记录所述高温电性参数测试的信息数据；第二常温检测装置(7)，接收来自所述高温检测装置(6)的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行高温测试后的第二次常温电性参数测试，并记录所述第二次常温电性参数测试的信息数据；位置纠正装置(8)，设置在投放装置(2)和第一常温检测装置(3)之间以及高温检测装置(6)和所述第二常温检测装置(7)之间，对元器件的方向位置纠正处理，使每一个元器件方向位置保持一致。