[发明专利]基于磁纳米颗粒的α表面污染模拟方法有效

专利信息
申请号: 201910725020.8 申请日: 2019-08-07
公开(公告)号: CN110349471B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 宁静;王琦;纪云龙;李大伟;王晓宁 申请(专利权)人: 中国人民解放军军事科学院军事医学研究院
主分类号: G09B9/00 分类号: G09B9/00
代理公司: 北京智乾知识产权代理事务所(普通合伙) 11552 代理人: 华冰
地址: 100850*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于磁纳米颗粒的α表面污染模拟方法,其具体包括如下步骤:S1:制备磁纳米颗粒模拟源以便用于α表面污染模拟检测;S2:预设磁感应强度的距离效应为α粒子在空气中的距离效应的模拟,S3:通过模拟源检测装置进行定量测量预设距离处模拟源的磁感应强度得到预设距离处的磁感应强度所对应的电压值;进行预设距离变化条件或擦除条件判断S4:进行距离变化试验;S5进行模拟源擦除实验。通过测量磁感应强度值得到相应的α活度值。
搜索关键词: 基于 纳米 颗粒 表面 污染 模拟 方法
【主权项】:
1.一种基于磁纳米颗粒的α表面污染模拟方法,其特征在于,其具体包括以下步骤;S1:制备磁纳米颗粒模拟源以便用于α表面污染模拟检测:所述磁纳米颗粒为钕铁硼磁粉,其在磁化磁场撤离后仍保持剩余磁感应强度;S2:将S1中剩余磁感应强度的距离效应作为α粒子的距离效应的模拟;预设空间中某点的磁感应强度为组成磁粉所有颗粒在该点的磁感应强度的矢量和;根据磁偶极子模型,将磁粉颗粒等效为一个圆电流环,磁偶极子轴向某点的磁感应强度值与该点到其中心的距离的立方成反比;其轴向上某点的磁感应强度表达式为:其中,为该点的磁感应强度、μ0为磁体所在空间磁导率、I为电流圆环的电流、S为电流圆环的面积、为圆环轴向单位向量、r为电流圆环中点到该点的距离;S3:检测模拟源并进行验证:将S1中所制备的磁粉胶体涂抹在无磁性的物体表面;通过模拟源检测装置进行定量测量以检测模拟源得到预设距离处的磁感应强度所对应的电压值;确定模拟源检测电路装置中传感器与模拟源之间的距离是否发生变化,若二者之间的距离发生变化,则转入S4;若二者之间的距离不变,则转入S5:S4:进行距离变化实验:改变模拟源检测电路装置中传感器与模拟源的距离进行距离变化试验,分别记录传感器距离模拟源在各第一预设距离处的电压的输出值,此处的电压输出值为第一电压值;判定模拟源检测装置输出电压值是否符合下述公式的变化规律:V为模拟源检测装置输出电压值,D为模拟源检测装置中传感器与模拟源的距离,a为受模拟源影响的常数,b为距离的修正值为常数,c为电压修正值为常数;S5:进行模拟源擦除实验:固定传感器与模拟源的距离至第二预设距离,进行模拟源擦除实验;逐渐擦除模拟源,记录各次擦除后的模拟检测装置的输出电压值,此处的输出电压值为第二电压值;判断模拟源检测装置电压值是否符合下述公式变化规律:V=k1·x+b1   (2)V为模拟源检测装置输出电压值,x为擦除的模拟源质量占模拟源质量的比例,k1、b1为常数;S6:将第一电压值按照下述公式映射为该距离的α表面表面污染的测量值:其中,CPS为在距离模拟源D位置测量到的α表面污染源的计数率,A为模拟α表面污染源的活度,ε为表面污染检测仪的探测效率,Rα为α射线的射程,V为测量的电压值,a为受模拟源影响的常数,b为距离的修正值为常数,c为电压修正值为常数B为模拟源的表面磁感应强度,k为常数;S7:将第二电压值按照下述公式映射为擦除预设量后的α表面表面污染的测量值:CPS=k2V+b2      (4)CPS为擦除预设质量比例后测量到的α表面污染源的计数率,V为测量的电压值,2、b2为常数;S8:通过测量磁感应强度值能够得出相应的α活度值:将测量电压映射为α表面污染活度值,从而实现α表面污染的模拟。
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