[发明专利]一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法有效
| 申请号： | 201910725383.1 | 申请日： | 2019-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN110515048B | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 郭曦;刘浩;张成;吴季 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01S13/90 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 陈琳琳;王宇杨 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法，包括：利用待定标的综合孔径辐射计对一个亮温中心对称的观测目标进行旋转采样，获得各相关基线的可见度函数测量值；对任意一个相关基线的可见度函数测量值的相位执行校正步骤：提取该相关基线在定标基准采样角度处的可见度函数测量值，将该可见度函数测量值的相位与其对应的定标基准相位的差值作为该相关基线的可见度函数测量值的相位误差；利用该相位误差对该相关基线的可见度函数测量值的相位进行校正。该方法不依赖额外的内定标装置，不需要求解复杂的矩阵方程，不存在180°相位模糊问题，具有操作简单、计算速度快、定标精度高等优点，适用于单元数较多的大规模旋转采样综合孔径辐射计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 旋转 采样 综合 孔径 辐射计 相位 定标 方法 | ||
【主权项】：
1.一种旋转采样综合孔径辐射计相位定标方法，所述方法包括：/n利用待定标的综合孔径辐射计对一个亮温中心对称的观测目标进行旋转采样，获得各相关基线的可见度函数测量值；/n任取一个相关基线，对其可见度函数测量值的相位执行校正步骤：提取该相关基线在定标基准采样角度处的可见度函数测量值，将该可见度函数测量值的相位与其对应的定标基准相位的差值作为该相关基线的可见度函数测量值的相位误差；利用该相位误差对该相关基线的可见度函数测量值的相位进行校正，/n遍历所有的相关基线，对其可见度函数测量值的相位执行校正步骤，完成综合孔径辐射计的相位定标。/n
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