[发明专利]一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法有效
| 申请号： | 201910725392.0 | 申请日： | 2019-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN110515049B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 郭曦;刘浩;张成;吴季 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40;G01S13/90 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 陈琳琳;王宇杨 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法，所述方法包括：利用待校正的综合孔径辐射计对一个亮温中心对称的观测目标进行旋转采样，获得各相关基线的可见度函数测量值；任取一个相关基线，对其可见度函数测量值迭代执行校正步骤：计算可见度函数幅度测量值的标准差并确定复相关偏置搜索范围，在该范围内获得使可见度函数幅度标准差最小的复相关偏置最优估计值；对可见度函数测量值进行校正；直至校正后的可见度函数测量值幅度标准差小于预定阈值。本发明的校正方法不依赖额外的内部定标装置，可以有效降低旋转采样综合孔径辐射计的系统复杂度，尤其适用于单元数较多的大规模旋转采样综合孔径辐射计系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 旋转 采样 综合 孔径 辐射计 相关 偏置 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种旋转采样综合孔径辐射计相关偏置校正方法，所述方法包括：/n利用待校正的综合孔径辐射计对一个亮温中心对称的观测目标进行旋转采样，获得各相关基线的可见度函数测量值；/n任取一个相关基线，对其可见度函数测量值迭代执行校正步骤：计算可见度函数幅度测量值的标准差并确定复相关偏置搜索范围，在该范围内获得使可见度函数幅度标准差最小的复相关偏置最优估计值；对可见度函数测量值进行校正；直至校正后的可见度函数测量值幅度标准差小于预定阈值；/n遍历所有的相关基线，对其可见度函数测量值迭代执行校正步骤，由此校正所有相关基线可见度函数测量值的相关偏置误差。/n
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