[发明专利]测距装置在审

专利信息
申请号: 201910728347.0 申请日: 2019-08-08
公开(公告)号: CN110865384A 公开(公告)日: 2020-03-06
发明(设计)人: 松井勇树;中室健;F·扎帕;F·维拉;R·卢萨纳 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社;米兰理工大学
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S7/481;G01S7/4865
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李艳芳;王小东
地址: 日本国京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种测距装置(1),该测距装置包括:光发射部(3),被配置成发射光(8);光接收部(4),被配置成接收由光发射部(3)发射并且被测量物体(2)反射的测量光(5),光接收部(4)包括被配置成输出取决于所接收的测量光(5)的光接收信号(LR)的多个像素(10)、被配置成接收光接收信号(LR)并且根据所接收的光接收信号(LR)确定特征值的多个确定部(11、111‑117)、以及连接至多个确定部(11、111‑117)的评估部(13),评估部(13)被配置成根据由确定部(11、111‑117)确定的特征值来计算距离。多个确定部(11、111‑117)中的每个均被配置成仅从多个非相邻像素(10)接收光接收信号(LR)。
搜索关键词: 测距 装置
【主权项】:
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