[发明专利]一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法有效

专利信息
申请号: 201910728811.6 申请日: 2019-08-08
公开(公告)号: CN110470685B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 徐建平;李新家;吴超超;周双清 申请(专利权)人: 武汉科技大学;湖南华菱涟源钢铁有限公司;广东韶钢松山股份有限公司
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/223
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 张火春
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法。其技术方案是:将2.5~3.5g的硼酸置入压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;再将厚度为0.5~1mm的薄膜材料制成直径d=d0‑(3~5mm)的圆片,即得衬托膜;其中:d0表示压片机装料腔的直径,mm;然后将所述衬托膜平铺在所述衬底层上,将0.5~3g的试样粉末均匀地铺撒在所述衬托膜上;最后用样勺将试样粉末抹平,安装压片机压头,加压,保压,脱模,得到硼酸衬底的XRFS分析用样片。本发明具有效率高、不易产生剥离层、试样粉末用量小和成片率高的特点。
搜索关键词: 一种 硼酸 衬底 xrfs 分析 样片 压片 方法
【主权项】:
1.一种硼酸衬底的XRFS分析用样片的压片方法,其特征在于所述制备方法的步骤是:/n步骤一、将2.5~3.5g的硼酸置入XRFS分析用压片机装料腔的底部,铺平,即得衬底层;/n步骤二、将厚度为0.5~1mm的薄膜材料制成直径d=d0-(3~5mm)的圆片,即得衬托膜;其中:d0表示XRFS分析用压片机装料腔的直径,mm;/n步骤三、将所述衬托膜平铺在所述衬底层上,然后将0.5~3g的试样粉末均匀地铺撒在所述衬托膜上;/n步骤四、用样勺将试样粉末抹平,安装XRFS分析用压片机压头,加压,保压,脱模,得到硼酸衬底的XRFS分析用样片。/n
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