[发明专利]一种基于EPI的光场图像关键位置检测方法

摘要

本发明一种基于EPI的光场图像关键位置检测方法：步骤1、对光场图像进行解码得到四维光场矩阵；步骤2、得到光场图像的中心行、中心列子孔径图像；步骤3、提取3D水平EPI立方体和3D垂直EPI立方体；步骤4、确定多个尺度上都被检测到的特征点；步骤5、处理得到关键位置线；步骤6、确定得到光场图像上稳定的特征点即光场关键位置；步骤7、删除重复的光场关键位置，最终得到光场图像上所有关键位置。本发明一种基于EPI的光场图像关键位置检测方法，克服了现有的光场图像特征检测方法检测出的特征点不稳定问题，能够准确检测到光场图像上稳定的关键位置，具有鲁棒性且时间复杂度低，适用于不同场景。

主权项

1.一种基于EPI的光场图像关键位置检测方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：/n步骤1、对原始的光场图像name_LensletRaw.bmp进行解码得到四维光场矩阵LF[u，v，s，t]；/n步骤2、利用MATLAB对四维光场矩阵LF[u，v，s，t]进行提取，再对提取得到的中心行、中心列子孔径图像进行灰度化处理；/n步骤3、在灰度化处理后的中心行、中心列子孔径图像上提取3D水平EPI立方体和3D垂直EPI立方体；/n步骤4、对灰度化处理后的中心行、中心列子孔径图像进行多尺度Harris特征点检测，确定光场图像上在多个尺度上都被检测到的特征点；/n步骤5、将经步骤4得到的特征点投影到经步骤3得到的相应EPI立方体上对应的EPI图像上，处理得到关键位置线；/n步骤6、对特征点投影之后的每个EPI图像先进行hough线检测再滤波，确定得到光场图像上稳定的特征点即光场关键位置；/n步骤7、删除重复的光场关键位置，并将剩下的光场关键位置显示在光场图像name_LensletRaw.bmp上，最终得到光场图像上所有关键位置。/n