[发明专利]一种快速定位存储性能问题的方法及系统有效
| 申请号： | 201910735351.X | 申请日： | 2019-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN110471785B | 公开（公告）日： | 2023-04-11 |
| 发明（设计）人： | 孙宇;王炳臣 | 申请（专利权）人： | 北京智睿博信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07;G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京华清迪源知识产权代理有限公司 11577 | 代理人： | 盛明星 |
| 地址： | 100000 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种快速定位存储性能问题的方法及系统，涉及存储技术领域，该方法包括以下步骤：针对存储磁盘阵列的架构类型，初始化存储性能预览图，其中所述存储性能预览图用于显示所述存储磁盘阵列的存储部件结构；采集所述存储磁盘阵列中每个存储部件的性能指标；基于所述性能指标，通过利用率算法计算每个存储部件的利用率；将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中。本发明实施例能将存储磁盘阵列中部件的性能指标进行统一，通过存储性能预览图可以快速有效地了解各个存储部件的性能情况，快速定位存储性能问题，为之后对利用率高的存储部件进行详细分析并出具解决方案从而解决存储性能瓶颈问题提供基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 定位 存储 性能 问题 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种快速定位存储性能问题的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n针对存储磁盘阵列的架构类型，初始化存储性能预览图，其中所述存储性能预览图用于显示所述存储磁盘阵列的存储部件结构；/n采集所述存储磁盘阵列中每个存储部件的性能指标；/n基于所述性能指标，通过利用率算法计算每个存储部件的利用率；/n将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中。/n
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