[发明专利]使用至少两个掩模的阶梯形成在审

专利信息
申请号: 201910738377.X 申请日: 2013-07-03
公开(公告)号: CN110571221A 公开(公告)日: 2019-12-13
发明(设计)人: 何昌万;格雷厄姆·R·沃斯滕霍姆;迪帕克·蒂梅高达 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11548;H01L27/1157;H01L27/11575
代理公司: 11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及使用至少两个掩模的阶梯形成。一种实例性方法可包含:在导电材料上方形成第一掩模以界定第一经暴露区域;及在所述第一经暴露区域的一部分上方形成第二掩模以界定第二经暴露区域,所述第二经暴露区域小于所述第一经暴露区域。从所述第二经暴露区域移除导电材料。所述第二掩模的初始第一尺寸小于所述第一经暴露区域的第一尺寸,且所述第二掩模的初始第二尺寸为至少所述第一经暴露区域的第二尺寸加上等于所述第二掩模的所述初始第一尺寸与在形成阶梯结构之后所述第二掩模的最终第一尺寸之间的差的距离。
搜索关键词: 暴露区域 掩模 导电材料 界定 阶梯结构 移除
【主权项】:
1.一种存储器装置,其包括:/n堆叠结构,其包括:/n导电材料;/n绝缘材料,其与所述导电材料垂直交替;/n外部列,其包括所述导电材料及所述绝缘材料的部分,所述外部列在其末端处无阶梯结构;及/n内部列,其在所述外部列之间且包括所述导电材料及所述绝缘材料的额外部分,所述内部列在其末端处呈现阶梯结构;及/n垂直存储器单元串,其在所述堆叠结构内且电耦合至其所述导电材料。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910738377.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top