[发明专利]一种基站高度测量方法、装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 201910741663.1 | 申请日： | 2019-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN110455239A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 兰宇时;任柏松;刘斌;王通;陈奇柏;赵姗姗;杜敏 | 申请（专利权）人： | 兰宇时 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08;G01B21/22 |
| 代理公司： | 51224 成都顶峰专利事务所(普通合伙) | 代理人： | 王霞<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 050000河北省石家庄市*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基站高度测量方法、装置、电子设备和存储介质。其技术方案为：一种基站高度测量方法，包括如下步骤：S1：取长度为m的参考物放置于待测基站的中心线上，使参考物保持竖直；S2：依次测量基站的顶部倾角α、参考物的顶部倾角β、参考物的底部倾角γ、基站的底部倾角θ；测量时，取相对于水平面朝上的方向为正方向；S3：根据公式h＝m(tanα‑tanθ)/(tanβ‑tanγ)，计算得到基站高度h。本发明提供了一种测量误差小、方便操作的基站高度测量方法、装置、电子设备和存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 基站 参考物 高度测量 存储介质 电子设备 测量 测量基站 方便操作 朝上 竖直 | ||
【主权项】：
1.一种基站高度测量方法，其特征在于：包括如下步骤：/nS1：取长度为m的参考物(1)放置于待测基站(2)的中心线上，使参考物保持竖直；/nS2：依次测量基站(2)的顶部倾角α、参考物(1)的顶部倾角β、参考物(1)的底部倾角γ、基站(2)的底部倾角θ；测量时，取相对于水平面朝上的方向为正方向；/nS3：根据公式h＝m(tanα-tanθ)/(tanβ-tanγ)，计算得到基站(2)高度h。/n
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