[发明专利]一种基站高度测量方法、装置、电子设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 201910741663.1 申请日: 2019-08-12
公开(公告)号: CN110455239A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 兰宇时;任柏松;刘斌;王通;陈奇柏;赵姗姗;杜敏 申请(专利权)人: 兰宇时
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08;G01B21/22
代理公司: 51224 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 代理人: 王霞<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 050000河北省石家庄市*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及一种基站高度测量方法、装置、电子设备和存储介质。其技术方案为:一种基站高度测量方法,包括如下步骤:S1:取长度为m的参考物放置于待测基站的中心线上,使参考物保持竖直;S2:依次测量基站的顶部倾角α、参考物的顶部倾角β、参考物的底部倾角γ、基站的底部倾角θ;测量时,取相对于水平面朝上的方向为正方向;S3:根据公式h=m(tanα‑tanθ)/(tanβ‑tanγ),计算得到基站高度h。本发明提供了一种测量误差小、方便操作的基站高度测量方法、装置、电子设备和存储介质。
搜索关键词: 基站 参考物 高度测量 存储介质 电子设备 测量 测量基站 方便操作 朝上 竖直
【主权项】:
1.一种基站高度测量方法,其特征在于:包括如下步骤:/nS1:取长度为m的参考物(1)放置于待测基站(2)的中心线上,使参考物保持竖直;/nS2:依次测量基站(2)的顶部倾角α、参考物(1)的顶部倾角β、参考物(1)的底部倾角γ、基站(2)的底部倾角θ;测量时,取相对于水平面朝上的方向为正方向;/nS3:根据公式h=m(tanα-tanθ)/(tanβ-tanγ),计算得到基站(2)高度h。/n
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