[发明专利]基于光场栅的位移测量装置及其位移测量方法在审
申请号: | 201910741883.4 | 申请日: | 2019-08-13 |
公开(公告)号: | CN110398202A | 公开(公告)日: | 2019-11-01 |
发明(设计)人: | 程方;叶瑞芳;苏杭;崔长彩;余卿;王寅 | 申请(专利权)人: | 华侨大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 杨依展 |
地址: | 362000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明公开了基于光场栅的位移测量装置及其位移测量方法。它基于光场的位移传感器,该传感器不包含物理实体的栅线载体,而是通过干涉技术形成光场作为绝对坐标系,记录平台在光场中的运动。该方法在保证高精度的同时,简化了测量系统的结构,减小了安装误差。 | ||
搜索关键词: | 光场 位移测量装置 位移测量 绝对坐标系 位移传感器 安装误差 测量系统 物理实体 传感器 减小 栅线 干涉 记录 保证 | ||
【主权项】:
1.基于光场栅的位移测量装置,其特征在于:包括测量系统、线性位移工作平台和光电探测器模块;所述线性位移工作平台和光电探测器模块能固定在一起;所述测量系统包括系统光源、半透半反分光平面镜、第一激光扩束准直器、第二激光扩束准直器、第一平面反射镜和第二平面反射镜,所述系统光源、半透半反分光平面镜、第一激光扩束准直器、第二激光扩束准直器和第二平面反射镜相对固定以构成一个整体;所述第一平面反射镜能相对该整体摆动以能调节偏转角度,所述线性位移工作平台能相对该整体平移和旋转;所述半透半反分光平面镜设置在系统光源之前,以使系统光源发出的一束光入射到半透半反分光平面镜后被分为传播方向互相垂直且能量相等的两束相干光;所述第一激光扩束准直器和第二激光扩束准直器垂直布置且都适配半透半反分光平面镜,以使两束相干光分别经第一激光扩束准直器与第二激光扩束准直器放大直径;所述第一平面反射镜设于第一激光扩束准直器和线性位移工作平台间,所述第二平面反射镜设于第二激光扩束准直器和线性位移工作平台间,以通过第一平面反射镜和第二平面反射镜控制光路,使两束相干光都打在线性位移工作平台上表面以能产生两个椭圆光斑。
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