[发明专利]星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法有效
| 申请号： | 201910749304.0 | 申请日： | 2019-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN110554421B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 韦锡峰;束山山;李庆;宗益燕;李强;邹莹;秦冉冉 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01T1/02 | 分类号： | G01T1/02;G01C21/24 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于星上敏感器件总剂量损伤的幸存概率、故障影响传递概率和在轨辐射损伤时间T，建立元器件PIT模型，识别在轨卫星的元器件总剂量损伤薄弱点。本发明的星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，以敏感元器件辐照试验数据和在轨辐射损伤时间作为模型输入，通过对星上元器件的损伤故障时间归一化处理，识别卫星元器件抗总剂量损伤的薄弱点，评估总剂量损伤严重程度，可对卫星电子器件总剂量损伤的薄弱点进行抗加设计和改进，满足未来卫星在轨任务需求和提高可靠度。 | ||
| 搜索关键词： | 敏感 元器件 剂量 损伤 薄弱 鉴别方法 | ||
【主权项】：
1.一种星上敏感元器件总剂量损伤的薄弱点鉴别方法，其特征在于，包括如下步骤：/n步骤1，列举卫星上的辐射敏感元器件，判断辐射损伤对辐射敏感元器件的后果及严重程度；/n步骤2，对同批次辐射敏感元器件进行总剂量辐照测试，获得同批次辐射敏感元器件抗总剂量的辐照测试值，计算得到同批次辐射敏感元器件抗总剂量指标的对数平均值A
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