[发明专利]一种模拟采样电路抗外部场强干扰的结构有效

专利信息
申请号: 201910749473.4 申请日: 2019-08-14
公开(公告)号: CN110519922B 公开(公告)日: 2021-01-08
发明(设计)人: 林国龙;邱定;赵娜;杨冬平;潘伟玲 申请(专利权)人: 杭州海兴电力科技股份有限公司;宁波恒力达科技有限公司;南京海兴电网技术有限公司
主分类号: H05K1/18 分类号: H05K1/18
代理公司: 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 代理人: 姚宇吉
地址: 310000 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种模拟采样电路抗外部场强干扰的结构,包括,采样器件设置于PCB板上,模拟采样模块设置于PCB板上;信号线A和信号线B的两端分别与采样器件和模拟采样模块连接,所述信号线A和信号线B相互平行地嵌设在PCB板的两侧且在三维轴的Z轴上重叠,所述信号线A和信号线B在三维轴的X轴和Y轴上交叉走线,形成环路,从而抵消外部磁场对模拟采样电路采样操作带来的影响。本发明中的结构可以从X、Y、Z轴向抵消外部磁场对模拟采样电路采样操作带来的影响,同时避免了增加任何器件和生产步骤带来的麻烦,大幅提升了产品的可靠性,同时也不增加任何成本,非常适合大力的推广应用。
搜索关键词: 一种 模拟 采样 电路 外部 场强 干扰 结构
【主权项】:
1.一种模拟采样电路抗外部场强干扰的结构,其特征在于,包括,PCB板(1)、模拟采样模块(2)、信号线A(3)、信号线B(4)和采样器件(5);/n所述采样器件(5)设置于PCB板(1)上,所述模拟采样模块(2)设置于PCB板(1)上;/n所述信号线A(3)和信号线B(4)的两端分别与采样器件(5)和模拟采样模块(2)连接,所述信号线A(3)和信号线B(4)相互平行地嵌设在PCB板(1)的两侧且在三维轴的Z轴上重叠,所述信号线A(3)和信号线B(4)在三维轴的X轴和Y轴上交叉走线,形成环路,从而抵消外部磁场对模拟采样电路采样操作带来的影响。/n
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