[发明专利]一种薄膜电容频率温升检测装置在审
申请号: | 201910749741.2 | 申请日: | 2019-08-14 |
公开(公告)号: | CN112394200A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 管在年;刘长超;丁霞梅;徐德兵;谢德龙 | 申请(专利权)人: | 扬州高强电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/00 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 艾秀丽 |
地址: | 225600 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及电容检测设备技术领域,且公开了一种薄膜电容频率温升检测装置,包括检测箱本体,所述检测箱本体的正面固定安装有显示屏,所述检测箱本体的正面且位于显示屏的下方固定安装有指示灯,所述检测箱本体的正面且位于显示屏的右侧固定安装有调节旋钮,所述检测箱本体的正面且位于调节旋钮的下方固定安装有控制按钮,所述检测箱本体的顶部固定安装有基板。该薄膜电容频率温升检测装置,通过启动风机和电磁阀打开,风机通过滤箱和软管将外界冷空气抽入均分管和分隔箱内部,并对分隔箱进行散热,防止分隔箱内部热量过多对后续检测产生影响导致检测数据偏差过大的情况发生,达到高精度检测的效果,从而提高了该检测装置的实用性。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜 电容 频率 检测 装置 | ||
【主权项】:
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