[发明专利]固态硬盘性能测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910750346.6 申请日: 2019-08-14
公开(公告)号: CN110569152A 公开(公告)日: 2019-12-13
发明(设计)人: 李创锋;蕭智仁 申请(专利权)人: 深圳市金泰克半导体有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/263
代理公司: 44481 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 代理人: 曹萌
地址: 518000 广东省深圳市坪*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种固态硬盘性能测试方法及装置,所述方法包括:判断固态硬盘是否为稳定状态;当所述固态硬盘是稳定状态时,更改所述工作负载的参数,所述工作负载用于指示固态硬盘的读取性能和写入性能;所述固态硬盘根据所述工作负载的参数进行性能测试。通过改变固态硬盘的工作负载参数进行测试,模拟固态硬盘在工作负载参数不同时的性能,以此确定固态硬盘在性能最佳时的工作负载参数值,便于设计人员根据测试结果对固态硬盘进行调试改善。
搜索关键词: 固态硬盘 工作负载 性能测试 读取性能 模拟固态 写入性能 硬盘 调试 测试 申请
【主权项】:
1.一种固态硬盘性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:/n判断固态硬盘是否为稳定状态;/n当所述固态硬盘是稳定状态时,更改所述工作负载的参数,所述工作负载用于指示固态硬盘的读取性能和写入性能;/n所述固态硬盘根据所述工作负载的参数进行性能测试。/n
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