[发明专利]固态硬盘性能测试方法及装置在审
申请号: | 201910750346.6 | 申请日: | 2019-08-14 |
公开(公告)号: | CN110569152A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 李创锋;蕭智仁 | 申请(专利权)人: | 深圳市金泰克半导体有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/263 |
代理公司: | 44481 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 | 代理人: | 曹萌 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请涉及一种固态硬盘性能测试方法及装置,所述方法包括:判断固态硬盘是否为稳定状态;当所述固态硬盘是稳定状态时,更改所述工作负载的参数,所述工作负载用于指示固态硬盘的读取性能和写入性能;所述固态硬盘根据所述工作负载的参数进行性能测试。通过改变固态硬盘的工作负载参数进行测试,模拟固态硬盘在工作负载参数不同时的性能,以此确定固态硬盘在性能最佳时的工作负载参数值,便于设计人员根据测试结果对固态硬盘进行调试改善。 | ||
搜索关键词: | 固态硬盘 工作负载 性能测试 读取性能 模拟固态 写入性能 硬盘 调试 测试 申请 | ||
【主权项】:
1.一种固态硬盘性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:/n判断固态硬盘是否为稳定状态;/n当所述固态硬盘是稳定状态时,更改所述工作负载的参数,所述工作负载用于指示固态硬盘的读取性能和写入性能;/n所述固态硬盘根据所述工作负载的参数进行性能测试。/n
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