[发明专利]一种打开石墨烯带隙的方法有效
申请号: | 201910752677.3 | 申请日: | 2019-08-15 |
公开(公告)号: | CN110429026B | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 苏杰;袁海东;林珍华;常晶晶;郝悦 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C01B32/186;C01B32/194 |
代理公司: | 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 | 代理人: | 徐云侠 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种打开石墨烯带隙的方法,属于半导体电子技术领域,包括以下步骤:分别制备氧化镓层和石墨烯层;将石墨烯层转移至氧化镓层上,通过氧化镓和石墨烯之间的电荷转移改变石墨烯的电子结构,形成氧化镓/石墨烯异质结,实现石墨烯带隙的打开;本发明提供的打开石墨烯带隙的方法,制备工艺简单,器件结构清晰,能够较大程度的有效打开石墨烯带隙,对于将石墨烯应用到半导体电子器件领域有着重要的意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 打开 石墨 烯带隙 方法 | ||
【主权项】:
1.一种打开石墨烯带隙的方法,其特征在于,包括以下步骤:分别制备氧化镓层和石墨烯层;将石墨烯层转移至氧化镓层上,通过氧化镓和石墨烯之间的电荷转移改变石墨烯的电子结构,形成氧化镓/石墨烯异质结,实现石墨烯带隙的打开。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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