[发明专利]非均质型断层的封闭性分析方法及装置有效
| 申请号： | 201910756591.8 | 申请日： | 2019-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN110632655B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 景紫岩;陈广坡;景苗苗;李国斌;薛罗;谢明贤;李翔 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V1/28 | 分类号： | G01V1/28;G01V1/30;G01V1/50 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 周晓飞;谷敬丽 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种非均质型断层的封闭性分析方法及装置，该方法包括：根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。本发明可以分析非均质型断层的封闭性，准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 非均质型 断层 封闭性 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种非均质型断层的封闭性分析方法，其特征在于，包括：/n根据目标区域的测井数据、地层特征数据和断层特征数据，建立非均质型断层地质模型；/n从非均质型断层地质模型中，识别出多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值；/n根据多个地层中非均质型断层的两盘的泥岩层厚度值，确定多个地层中非均质型断层的封闭因子；/n根据多个地层中非均质型断层的封闭因子，分析每一地层中非均质型断层的封闭性。/n
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