[发明专利]一种芯片接口功能测试方法、系统、终端及存储介质有效
| 申请号： | 201910760225.X | 申请日： | 2019-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN110569154B | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 李凯 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 张亮 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片接口功能测试方法、系统、终端及存储介质，包括：配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。本发明能够对于存储和服务器中涉及BMC、CMC相关功能可以满足自动化测试，同时有性能散点图输出，可给调试、优化开发提供辅助作用；可实现迭代过程中繁杂的功能验证，提高团队效率和产品质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 接口 功能 测试 方法 系统 终端 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种芯片接口功能测试方法，所述芯片包括CMC芯片和BMC芯片，其特征在于，包括：/n配置芯片接口的压力测试用例和用例运行适配器；/n将所述压力测试用例与用例运行适配器中的运行适配器进行匹配，生成并发测试任务；/n通过IPMITOOL触发芯片处理任务执行所述并发测试任务并生成执行测试任务的记录日志；/n根据所述记录日志分析芯片接口性能参数。/n
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