[发明专利]测试电子组件的设备及方法在审
| 申请号： | 201910768767.1 | 申请日： | 2019-08-20 |
| 公开（公告）号： | CN111999570A | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 孙俊宏;刘益廷 | 申请（专利权）人： | 台湾福雷电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 中国台湾高雄市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供一种设备，其包含控制单元及包含计算机程序码的存储器。所述设备能够将具有第一值的第一信号及具有第二值的第二信号施加到电子组件且接收反馈信号。所述设备能够确定与所述第一反馈信号相关联的第一参数。所述设备能够将具有第三值的第三信号及所述第二信号施加到所述电子组件且接收第二反馈信号。所述设备能够确定与所述第二反馈信号相关联的第二参数。如果所述第一参数不同于所述第二参数，那么所述设备能够将具有第四值的第四信号及所述第二信号施加到所述电子组件。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电子 组件 设备 方法 | ||
【主权项】：
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