[发明专利]自检随机测试方法及随机循环测试装置有效
| 申请号： | 201910771716.4 | 申请日： | 2019-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN112416666B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 王丽一;李岱峰;谭坚;陈磊;吴臻;蒋昊辰 | 申请（专利权）人： | 无锡江南计算技术研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 214083 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种自检随机测试方法及随机循环测试装置，S1、控制单元调用随机指令生成器，并将随机指令生成器生成的运算控制核心的随机指令段和运算核心的随机指令段分别嵌入运算控制核心的程序框架和运算核心的程序框架中，形成汇编程序；S2、控制单元根据程序结构调用编译脚本，将生成的汇编程序编译成可执行的随机测试程序；S3、编译完成后，控制单元调用测试管理系统运行S2中生成的可执行的随机测试程序，并监控测试结果；S4、测试完返回控制单元，等待产生新的随机测试程序，进行下一次测试。本发明通过生成不需要依赖模拟器的随机测试程序，更高效地暴露更多的处理器软硬件设计及环境问题，弥补硅前验证效率低、覆盖不全面的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 自检 随机 测试 方法 循环 装置 | ||
【主权项】：
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