[发明专利]一种在低采样点时的离散频谱参数校正方法有效
| 申请号： | 201910772288.7 | 申请日： | 2019-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN110598269B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 李佐成;江湘清 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱沉雁 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在低采样点时的离散频谱参数校正方法，通过对已有的采样信号进行线性插值或三次样条插值，从而得到更多的采样点数，对插值后的采样数据应用快速傅里叶变换(FFT)，进行从时域向频域的转变，得到单边频谱图，再使用相位差校正法，得到谱线号校正量，从而校正频率、幅值与相位。本发明适用于自动控制、机械设备故障诊断和振动分析等领域的离散频谱参数校正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采样 离散 频谱 参数 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在低采样点时的离散频谱参数校正方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1、把实际工程中的连续无穷长的模拟信号进行离散化，并通过加窗函数截断为有限长，设定采样周期Δt、窗函数类型、采样点数N，其中N远小于1024，得到采样信号x(n)，转入步骤2；/n步骤2、对采样信号x(n)进行插值，先确定插值增大的倍数D，对采样信号x(n)分别进行线性插值与三次样条插值，线性插值后得到线性插值采样信号y(m)，三次样条插值后得到三次样条插值采样信号z(m)，转入步骤3；/n步骤3、采用综合相位差校正法，确定窗长改变量α和时移比例β，分别处理x(n)、y(m)和z(m)，得到六段信号分别为x
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