[发明专利]一种基于特征点位置校正的靶标位姿测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910773427.8 申请日: 2019-08-21
公开(公告)号: CN110610518B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 闵永智;陶佳;党建武;张振海;张雁鹏;林俊亭;张鑫;左静;岳彪 申请(专利权)人: 兰州交通大学
主分类号: G06T7/70 分类号: G06T7/70;G06T7/13;G06T7/00
代理公司: 北京兴智翔达知识产权代理有限公司 11768 代理人: 郭卫芹
地址: 730070 甘肃*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明涉及路基沉降测量技术领域,具体为一种基于特征点位置校正的靶标位姿测量系统及方法,其目的在于克服现有技术的不足,提供一种基于特征点位置校正的靶标位姿测量系统及方法;其包括第一摄像机、第一激光器,所述第一摄像机的侧面上安装有第一倾角仪,所述第二可调支架的上表面上安装有第二摄像机和第二激光器,所述第二摄像机的侧面上安装有第二倾角仪,座体的左侧板上设置有第一特征点靶面,所述座体的右侧板上设置有第二特征点靶面,其有益效果在于:根据实际运营情况设计了区别于传统特征点的特征点靶面的位姿测量系统,并结合特定的4特征点靶面提出了一种已知矩形特征点边长的位姿求解方法,能够精确求解靶面与相机之间的相对位姿。
搜索关键词: 一种 基于 特征 位置 校正 靶标 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种基于特征点位置校正的靶标位姿测量系统,包括座体(1),其特征在于:所述座体(1)的底板(101)上安装有第一可调支架(2)和第二可调支架(7),所述第一可调支架(2)与第二可调支架(7)分别位于底板(101)的左侧和右侧,所述第一可调支架(2)的上表面上安装有第一摄像机(3)和第一激光器(5),所述第一摄像机(3)的侧面上安装有第一倾角仪(4),所述第二可调支架(7)的上表面上安装有第二摄像机(8)和第二激光器(10),所述第二摄像机(8)的侧面上安装有第二倾角仪(9),所述座体(1)的左侧板(102)上设置有第一特征点靶面(6),所述座体(1)的右侧板(103)上设置有第二特征点靶面(11),所述第一特征点靶面(6)、第一摄像机(3)和第二激光器(10)位于同一条直线上,即第一摄像机(3)和第二激光器(10)对准第一特征点靶面(6),所述第二特征点靶面(11)、第二摄像机(8)和第一激光器(5)位于同一条直线上,即第二摄像机(8)和第一激光器(5)对准第二特征点靶面(11),所述座体(1)的后侧板(104)上安装有嵌入式系统(12),所述第一摄像机(3)、第一倾角仪(4)、第二摄像机(8)和第二倾角仪(9)与嵌入式系统(12)通过电性连接。/n
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