[发明专利]量化选取滤光片及闪烁体厚度的方法有效
| 申请号： | 201910774455.1 | 申请日： | 2019-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN110646828B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 王*召;苏晓芳 | 申请（专利权）人： | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;G01T1/36;G01T7/00;G06F16/903 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 贺妮妮 |
| 地址： | 201201 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种量化选取滤光片及闪烁体厚度的方法，通过在制备X射线探测器之前建立一个数学模型来模拟X射线从发射到探测的整个过程，当在指定射线源以及高低能透射率阈值的条件下，建立一个高能闪烁体、低能闪烁体及滤波片的厚度数据库，然后以此数据库为依据通过改变高能闪烁体、低能闪烁体及滤波片的厚度求取分离度的离散型数据，最终对比查找出分离度达到最大值时对应的高能闪烁体、低能闪烁体及滤波片的厚度即为X射线探测器结构中高能闪烁体、低能闪烁体及滤波片的最优厚度。采用本发明的方法可以在设计探测器前对高低能闪烁体以及滤波片厚度做出预判断选择，从而增加了后期探测器设计开发的可靠性，节约了实验成本及开发周期。 | ||
| 搜索关键词： | 量化 选取 滤光 闪烁 厚度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种量化选取滤光片及闪烁体厚度的方法，用于单源双能成像系统中的X射线探测器中，其特征在于，所述方法至少包括：/n1)设定被检测物体的材料有效原子序数Z
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海奕瑞光电子科技股份有限公司，未经上海奕瑞光电子科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910774455.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
