[发明专利]一种对流层散射机制的识别方法在审
| 申请号： | 201910776727.1 | 申请日： | 2019-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN110531316A | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 石玲花;弓树宏;刘强;陈西宏 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01S5/06 | 分类号： | G01S5/06;G06F17/12;G06F17/15 |
| 代理公司： | 44291 广东朗乾律师事务所 | 代理人： | 杨焕军<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 710068*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种对流层散射机制的识别方法，步骤如下：采集对流层散射回波电平时间序列数据；对采集到的实测数据进行分组；计算分组数据的均值和方差，并画出各分组数据的实测数据概率密度直方图和实测数据概率密度曲线图以及对应的莱斯概率密度理论曲线图和瑞利概率密度理论曲线图；将各分组数据的实测数据概率密度曲线图分别与对应的莱斯概率密度理论曲线图和瑞利概率密度理论曲线图进行比对，如果实测数据概率密度曲线与莱斯或瑞利概率密度理论曲线吻合，则根据莱斯分布或瑞利分布与散射机制的对应关系识别回波的散射机制，否则根据多莱斯分布与散射机制的对应关系识别回波的散射机制。本发明方法通过对实测回波数据的处理可实现对散射机制的识别。 | ||
| 搜索关键词： | 散射机制 实测数据 概率 理论曲线图 分组数据 回波 瑞利 对流层 密度曲线图 关系识别 采集 概率密度曲线 时间序列数据 密度直方图 回波数据 理论曲线 瑞利分布 散射 比对 方差 实测 吻合 分组 | ||
【主权项】：
1.一种对流层散射机制的识别方法，其特征在于，包括以下步骤：/n数据采集；采集一定时间周期内的对流层散射回波电平时间序列数据；/n数据分组；对采集到的实测数据进行分组，并剔除脉冲式数据；/n获取数据曲线图；计算每一个分组数据的均值和方差，并画出各分组数据的实测数据概率密度直方图和实测数据概率密度曲线图，同时基于各分组数据的均值和方差，根据莱斯分布概率密度函数和瑞利分布概率密度函数分别画出对应的莱斯概率密度理论曲线图和瑞利概率密度理论曲线图；/n曲线图对比；将各分组数据的实测数据概率密度曲线图分别与对应的莱斯概率密度理论曲线图和瑞利概率密度理论曲线图进行比对，如果某一分组数据的实测数据概率密度曲线与该分组数据的莱斯概率密度理论曲线吻合，则根据莱斯分布与散射机制的对应关系识别回波的散射机制，如果某一分组数据的实测数据概率密度曲线与该分组数据的瑞利概率密度理论曲线吻合，则根据瑞利分布与散射机制的对应关系识别回波的散射机制，如果某一分组数据的实测数据概率密度曲线与该分组数据的莱斯概率密度理论曲线及瑞利概率密度理论曲线均不吻合，则根据双(多)莱斯分布与散射机制的对应关系识别回波的散射机制。/n
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