[发明专利]一种GaN基激光器和AlGaN/GaN HEMT集成器件制备方法有效

专利信息
申请号: 201910776876.8 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN110600470B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 田朋飞;闫春辉;林润泽;方志来;张国旗 申请(专利权)人: 深圳第三代半导体研究院
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L29/20;H01L29/778;H01S5/34;H01S5/343
代理公司: 北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙) 11888 代理人: 彭随丽
地址: 518055 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种GaN基激光器和AlGaN/GaN HEMT集成器件制备方法,包括:S1:在GaN基激光器衬底层上制备GaN基激光器、在第一衬底上制备第一AlGaN/GaN HEMT外延片;S2:通过干法刻蚀的方式顺序刻蚀获得激光器台面结构、AlGaN/GaN HEMT转移区、及AlGaN/GaN HEMT台面结构;S3:通过湿法刻蚀的方式去除所述第一AlGaN/GaN HEMT外延片的第一衬底,获得第二AlGaN/GaN HEMT外延片;S4:将所述第二AlGaN/GaN HEMT外延片转移至第二衬底,获得第三AlGaN/GaN HEMT外延片;S5:通过粘附材料键合第三AlGaN/GaN HEMT外延片与GaN基激光器;S6:制备钝化层及电极。本发明避免原有制备方法的隔离性差、安全性低的技术问题,实现了器件系统安全性高、耐高频、耐高压、易批量生产的技术效果。
搜索关键词: 一种 gan 激光器 algan hemt 集成 器件 制备 方法
【主权项】:
1.一种GaN基激光器和AlGaN/GaN HEMT集成器件制备方法,其特征在于,包括:/nS1:在GaN基激光器衬底层上制备GaN基激光器、在第一衬底上制备第一AlGaN/GaNHEMT外延片;/nS2:通过干法刻蚀的方式顺序刻蚀获得激光器台面结构、AlGaN/GaN HEMT转移区、及AlGaN/GaN HEMT台面结构;/nS3:通过湿法刻蚀的方式去除所述第一AlGaN/GaN HEMT外延片的第一衬底,获得第二AlGaN/GaN HEMT外延片;/nS4:将所述第二AlGaN/GaN HEMT外延片转移至第二衬底,获得第三AlGaN/GaN HEMT外延片;/nS5:通过粘附材料键合第三AlGaN/GaN HEMT外延片与GaN基激光器;/nS6:制备钝化层及电极。/n
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