[发明专利]性能分析系统与方法有效
| 申请号： | 201910777398.2 | 申请日： | 2019-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN110514982B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 李琳;李晓阳;惠志强;王峥;齐宗普 | 申请（专利权）人： | 上海兆芯集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 钱大勇 |
| 地址： | 上海市张江高科技*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种性能分析系统与方法，用以分析处理装置的处理性能。捕获模块被放置在处理装置内，以在处理多个任务的总执行时间内捕获这些任务中的每一个在处理装置中的单元电路的多个时间信息。计算电路对这些时间信息进行区间分析操作。其中，区间分析操作包括：计算目前任务与先前任务之间的交叠期间；以及依据该目前任务对应于所述单元电路的目前时间区间与该交叠期间二者的关系，统计在处理装置处理这些任务的总执行时间中所述单元电路所占用的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种性能分析系统，用以分析处理装置的处理性能，所述性能分析系统包括：/n至少一个捕获模块，被设置于该处理装置内，用以在所述处理装置处理多个任务的总执行时间内捕获所述多个任务中的每一个在所述处理装置中的至少一个单元电路的多个时间信息；以及/n计算电路，用以对所述多个时间信息进行区间分析操作，其中所述区间分析操作包括：/n计算目前任务与先前任务之间的交叠期间；以及/n依据所述目前任务对应于所述至少一个单元电路的目前时间区间与所述交叠期间二者的关系，统计在所述处理装置处理所述多个任务的所述总执行时间中所述至少一个单元电路所占用的时间。/n
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